快速掃描測量系統(tǒng)
簡 述:
快速掃描測量系統(tǒng)整合了TSL 可調(diào)諧激光器、MPM 光功率計、PCU 偏振控制器及根據(jù)用戶需求自定義的軟件,為R&D 及生產(chǎn)環(huán)境的IL、WDL、PDL 測試提供快速、多功能、全自動的平臺。系統(tǒng)同時采集可調(diào)諧光源的輸出功率及DUT 透過的光功率作實時參比,獲取高精度的IL、WDL 以及PDL(采用Muller 矩陣方法)。
品 牌:
日本 Santec
產(chǎn)品型號:
- 快速掃描測量系統(tǒng)
快速掃描測量系統(tǒng)整合了TSL 可調(diào)諧激光器、MPM 光功率計、PCU 偏振控制器及根據(jù)用戶需求自定義的軟件,為R&D 及生產(chǎn)環(huán)境的IL、WDL、PDL 測試提供快速、多功能、全自動的平臺。系統(tǒng)同時采集可調(diào)諧光源的輸出功率及DUT 透過的光功率作實時參比,獲取高精度的IL、WDL 以及PDL(采用Muller 矩陣方法)。
性能優(yōu)勢
• 實時功率參考:高精度的WDL/PDL 測試
- 功率可重復(fù)性<±0.02dB
- PDL 可重復(fù)性< ±0.01dB
• 縮放運(yùn)算:高波長精度/ 節(jié)省測量時間
• 支持多通道測量
• 支持圖形介面軟件及編程接口(DLL)
主要應(yīng)用
• 器件和模塊光學(xué)特性測試:
- 可調(diào)諧濾波器,插入器,F(xiàn)BG,
耦合器,分光器,隔離器,開關(guān) .....
- WSS 及波長阻斷器
- DWDM 器件
• 硅光子材料表征,包括微腔環(huán)形諧振器
• 光譜
• 干涉測量
配置

多站測試
測試示例

多站測試
多站測試中,TSL、PCU與MCU 構(gòu)成一個服務(wù)中心,分發(fā)觸發(fā)信號及光束到不同的測試站。每個測試站包括功率計和客戶端PC。在運(yùn)行過程中,TS持續(xù)的掃頻,使得每個測試站可以獨(dú)立而并行地工作。多站測試架構(gòu)極大提升了高精度測量與分析的效率。

測試示例













































































































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