SR-750超高分辨率光譜儀
簡 述：
R-750可以配用多種附件，拓展應用領域，在透射/反射/吸收光譜、Raman光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中，提供優質的系統解決方案。
品 牌：
英國 Andor
產品型號：
- SR-750
結合創新型的光學器件設計，SR-750 配合Andor 公司的各型高性能光譜專用CCD/ICCD，可以非常方便進行空間多點光譜的同時采集與測量。SR-750 可以配用多種附件，拓展應用領域， 在透射/ 反射/ 吸收光譜、Raman 光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中，提供*佳的系統解決方案。
SR-750超高分辨率光譜儀主要特點：
SR-750超高分辨率光譜儀技術參數：
• 分辨率*高可達0.02nm
• 多路光譜優化光路，低串擾，高密度多路光譜探測
• 雙探測器出口選項，可安裝不同類型探測器滿足不同實驗需求
• 光學元件鍍銀選項，保證紅外探測器更好的性能
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型號 |
Shamrock 750 |
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焦距長度 |
750mm |
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通光孔徑（F/#） |
F/9.8 |
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焦平面尺寸 |
30mm×14mm |
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光譜分辨率 @1200l/mm,500nm |
0.04nm |
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光柵塔輪 |
三光柵 |
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自動聚焦 |
- |
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TruResTM 分辨率增強選項 |
- |
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波長精度 |
0.03nm |
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波長重復精度 |
10pm |
不同光柵對應的分辨率及覆蓋帶寬：
綠色： 無限制自由使用區域；黃色： 可能對系統分辨率產生影響； 紅色： 對系統分辨率有影響
光柵效率曲線
簡單四步選擇光譜儀配置：
13810233784
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