3-D 形貌儀OPS-1000
簡(jiǎn) 述：
OPS-1000 系列掃頻式相干成像的3-D 形貌儀整合了快掃描可調(diào)諧激光技術(shù)、干涉計(jì)量技術(shù)，提供單光束、高靈敏度、非接觸的光學(xué)方法形貌測(cè)量。OPS-1000 可為各種類型形狀、材質(zhì)、顏色及表面形狀的物體提供高速、高精度、無接觸的形貌測(cè)量功能。
品 牌：
日本 Santec
產(chǎn)品型號(hào)：
- OPS-1000
OPS-1000 系列掃頻式相干成像的3-D 形貌儀整合了快掃描可調(diào)諧激光技術(shù)、干涉計(jì)量技術(shù)，提供單光束、高靈敏度、非接觸的光學(xué)方法形貌測(cè)量。
OPS-1000 可為各種類型形狀、材質(zhì)、顏色及表面形狀的物體提供高速、高精度、無接觸的形貌測(cè)量功能。
主要指標(biāo)
應(yīng)用
應(yīng)用
• 材料表面3-D 測(cè)試
• 缺陷3-D 測(cè)試
• 全自動(dòng)形貌繪制
• 實(shí)時(shí)過程監(jiān)控
特點(diǎn)
• 高靈敏度：最小檢測(cè)靈敏度 100dB，動(dòng)態(tài)范圍 >70dB
• 單光束：?jiǎn)喂馐鴾y(cè)量方式避免形狀與結(jié)構(gòu)之間的干涉
• 高速度：最高可達(dá)400,000 點(diǎn)/ 秒 測(cè)量速度
• 長(zhǎng)探測(cè)距離：可探測(cè)達(dá)1m 的距離
• 環(huán)境光免疫：相干測(cè)量，不受環(huán)境光（日光、照明、測(cè)量體系自發(fā)光）影響
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